仪器介绍

电离层光度计（IPM-II），通过对远紫外电离层OI 135.6nm 和N₂LBH的气辉辐射强度的测量，反演电离层电子总含量（TEC）、O/N₂等参数，并可直接获取电离层赤道异常区的二维精细结构，准确定位极光边界。

性能参数

搭载卫星	FY-3H
通道数	2
空间分辨率	30km

数据产品

卫星名称	仪器名称	中文全称	数据产品
FY-3H	IPM-II	电离层光度计II型	L1数据

定标与检验

• IPM定标与检验

相关文档

• FY-3H IPM-II一级产品使用说明